上海恒平CON6331電導率儀
上海恒平CON6330電導率儀
上海恒平CON6320電導率儀
上海恒平PH6230酸度計
上海恒平PH6210酸度計
UV2400系列比例監(jiān)測雙光束紫外-可見分光光度計，采用新型的光學結構及C-T式單色器以及優(yōu)質的電路系統設計，使儀器具有波長精度高，重復性好，雜散光低及長時間的穩(wěn)定性和高性價比，可滿足各種層次的分析應用所需，若配上專用軟件，可與PC連接，實現更多的測試功能包括數據海量存貯。
功能
自動扣除比色皿誤差
自動波長：鍵盤輸入最小間隔為0.1nm。
光度測量：定波長測試透過率、吸光度和系數吸光度及能量的測量。
定量測定：單波長法，1-3階線性標準曲線擬合，最多可建立9個標樣點的標準曲線。
多波長測定：具有可設5個波長的設定，對同一樣品連續(xù)測定。
特點
自動八聯池：一次可放7個樣品大大提高測樣分析速度。
自動扣除比色皿誤差：使測光準確度（被測樣濃度較低時）更為準確。
光譜帶寬?。簡紊饧儍x器分辨率高。
超低雜散光：使高濃度樣品測試更準確。
持久的穩(wěn)定性：比例監(jiān)測雙光束光路、電路系統，確保儀器長時間的穩(wěn)定。
顯示及操作：液晶屏顯示器、菜單化工作界面、人性化設計、用戶操作簡單。
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結構，更換氘燈無需專用工具，免去換燈時光路調試步驟，使儀器調試、維護更加簡單。
具有USB接口：配上專用軟件可與PC機相連，擴至多種測試功能（光譜掃描、動力測定等）包括數據的數量貯存。
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型
號
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UV2400
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光學系統
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比例監(jiān)測雙光束
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光譜帶寬
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1.8nm
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波長范圍
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190～1100nm
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波長最大允許誤差
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±0.5nm
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波長重復性
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≤0.2nm
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光度范圍
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T:0～200.00%T
A:-0.301～4.000Abs
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透射比最大允許誤差
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±0.3%T
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透射比重復性
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≤0.1%T
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雜散光
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≤0.05%T(220nm、340nm處)
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基線平直度
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±0.002A
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漂移
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≤0.001A/h
(500nm處)
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噪聲
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100%(T)線噪聲≤0.1%(T)
0%(T)線噪聲≤0.05%(T)
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顯示器
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128×64大屏幕液晶顯示
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外形尺寸
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540x445x230(mm)
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滬公網安備 31011202001467號